应力坐标系统是什么?

在X射线应力测定中建立下图所示的坐标系统，我们选取试样表面O点以OP为法线的那些{hkl}晶面，并以图中的φ、ψ角来表征OP的方向，OP的在试样表面的投影OSφ便是待测应力方向。

依据广义胡克定律，这些晶面的应变是由O点的应力张量决定的，并且与φ、ψ的正弦余弦、材料的杨氏模量和泊松比等参量密切相关。依据这样的关系求得O点的三维应力，包括应力σφ。